机读格式显示(MARC)
- 010 __ |a 7-5024-4101-8 |b 平装 |d CNY30.00
- 100 __ |a 20061023d2006 ekmy0chiy0121 ea
- 200 1_ |a 半导体测试技术原理与应用 |f 刘新福,杜台平,李为民编著
- 210 __ |a 北京 |c 冶金工业出版社 |d 2006.10
- 330 __ |a 本书共11章。第1~6章讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析回探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线回探针方法、改进范德堡法和改进Pymaszewsk,回探针测测试方法。第7-11章重点讨论测试技术在材料科学等领域上的分析与应用及无接触测量技术。
- 333 __ |a 电子、材料、化工、机械、国防等领域分析测试仪器及使用科研和工程技术人员,高等院校相关专业本科研究生
- 801 _0 |a CN |b CEPC |c 20061023