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- 010 __ |a 978-7-302-58923-5 |d CNY39.00
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- 100 __ |a 20211213d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 一板成功 |A yi ban cheng gong |e 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |f 张晶威编著
- 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2022
- 215 __ |a 127页 |c 图 |d 24cm
- 314 __ |a 张晶威, 从事电子硬件技术工作10余年, 涉及计算机, 通信, 仪器仪表等行业, 并参与多项国家级、省级系统平台建设。
- 330 __ |a 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。
- 517 1_ |a 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |A gao su dian lu yan fa yu she ji dian xing gu zhang an li jie xi
- 606 0_ |a 印刷电路 |A yin shua dian lu |x 电路设计
- 701 _0 |a 张晶威 |A zhang jing wei |4 编著
- 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20211213
- 905 __ |a JHUD |d TN410.2/263