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- 010 __ |a 7-5024-2735-X |d CNY38.00
- 099 __ |a CAL 012002021316
- 100 __ |a 20011230d2001 ekmy0chiy0121 ea
- 200 1_ |a 材料评价的分析电子显微方法 |A cai liao ping jia de fen xi dian zi xian wei fang fa |f (日) 进藤大辅, (日) 及川哲夫合著 |g 刘安生译
- 210 __ |a 北京 |c 冶金工业出版社 |d 2001
- 215 __ |a 10, 181页 |c 图 |d 26cm
- 312 __ |a 版权页英文题名:Analytical electron microscopy for materials science
- 330 __ |a 本书全面介绍了各种分析电子显微方法,首先介绍了各种分析电子显微方法的原理和实验技术,如讲解了电子能量损失谱和X 射线能谱分析方法的理论基础、实验技术和谱的解析;讲述了能量过滤方法,比较了各种类型的能量过滤器原理、结构和特点:介绍了确定杂质原子或添加元素原子位置占有率的通道增强微分析方法、纳米束电子衍射等。此外,还详细讲解了电子显微镜和各种分析装置的基本结构、工作原理、基本操作技术和最佳使用条件的设定方法等。
- 333 __ |a 读者对象:材料科学、生物科学、石油化工、地质学等领域科技人员。
- 510 1_ |a Analytical electron microscopy for materials science |z eng
- 606 0_ |a 材料 |A cai liao |x 电子显微镜分析
- 701 _0 |a 进藤大辅 |A jin teng da fu |4 著
- 701 _0 |a 及川哲夫 |A ji chuan zhe fu |4 著
- 702 _0 |a 刘安生 |A liu an sheng |4 译
- 801 _0 |a CN |b WYXH |c 20011230