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• 200 1_ |a 单板级JTAG测试技术 |A dan ban ji JTAG ce shi ji shu |f 王承, 刘治国编著

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a X, 205页 |c 图 |d 21cm

• 320 __ |a 有书目 (第204-205页)

• 330 __ |a 本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。

• 333 __ |a 本书适合于相关领域工程技术人员阅读, 也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 王承, |A wang cheng |f 1976- |4 编著

• 701 _0 |a 刘治国, |A liu zhi guo |f 1977- |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20150618

• 905 __ |a JHUD |d TN407/17

• 920 __ |a 242450 |z 1

• 998 __ |a RTBOOK