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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 超大规模集成电路测试 |A chao da gui mo ji cheng dian lu ce shi |f 雷绍充等编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2008

• 215 __ |a 12.319页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。

• 333 __ |a 使用对象：高等院校学生，从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN470.7 |v 4

• 701 _0 |a 雷绍充 |A lei shao chong |4 编著

• 801 _0 |a CN |b CSLN |c 20080613

• 905 __ |a JHUL |d TN470.7/2