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• 000 00592nam 22200205 4450

• 001 0000001962

• 005 19960621000000.0

• 010 __ |d RMB3.70

• 100 __ |a 19960621d1984 y0chic0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 200 1_ |a 半导体的检测与分析 |b 专著 |f 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著

• 210 __ |a 北京 |b 北京 |c 科学出版社 |d 1984.5

• 215 __ |a 636页 |d 大32开

• 225 2_ |a 实验物理学丛书

• 410 __ |1 2001 |a 实验物理学丛书

• 690 __ |a TN307

• 711 02 |a 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室

• 801 _0 |a CN |b Library |c 19960621 |U UnKnown

• 905 __ |a JHUL |d TN307/1