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- 100 __ |a 20221209d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 集成电路测试技术 |A ji cheng dian lu ce shi ji shu |f 武乾文主编
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022
- 215 __ |a xvii, 329页 |c 图 |d 25cm
- 225 2_ |a 集成电路系列丛书 |A ji cheng dian lu xi lie cong shu |i 集成电路封装测试
- 300 __ |a 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程
- 320 __ |a 有书目 (第 [314]-329页)
- 330 __ |a 本书共分10章,内容包括:集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。
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- 701 _0 |a 武乾文 |A wu qian wen |4 主编
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