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• 000 01856nam 2200313 450

• 001 0000967569

• 010 __ |a 978-7-03-071274-5 |d CNY119.00

• 100 __ |a 20230421d2023 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评 |A ya jie xing IGBT qi jian feng zhuang ke kao xing jian mo yu ce ping |f 李辉 ... [等] 著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2023.3

• 215 __ |a 177页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a “大功率电力电子器件及装备可靠性研究”系列 |A “da gong lv dian li dian zi qi jian ji zhuang bei ke kao xing yan jiu ”xi lie

• 304 __ |a 题名页题: 李辉, 姚然, 向学位, 赖伟, 王晓等著

• 306 __ |a 国家科学技术学术著作出版基金资助出版

• 314 __ |a 李辉博士, 重庆大学教授、博士生导师, 教育部新世纪优秀人才支持计划入选者。姚然, 博士, 重庆大学助理研究员。主要从事功率电力电子器件失效模拟、可靠性评估及其系统应用等方面研究。向学位, 博士, 重庆大学助理研究员, 硕士生导师。主要从事电力电子器件及变换器可靠性测试、伺服电驱系统设计与控制等方面研究。

• 320 __ |a 有书目 (第174-177页)

• 330 __ |a 本书主要内容共9章, 包括: 绪论、封装结构及失效模式、多物理场建模及性能仿真、封装疲劳失效物理建模、器件及组件封装可靠性计算、动静态特性测试、功率循环测试、失效短路及耐久性测试、银烧结封装压接型IGBT器件的可靠性等。全书较为系统地论述了压接型IGBT器件封装疲劳失效机理及其可靠性建模与测评等, 既有理论原理、仿真分析、又有实验测试等。

• 333 __ |a 本书可供新能源汽车专业的师生参考, 也可供从事汽车设计、研究、制造、可靠性分析等科研与生产人员的参考用书

• 410 _0 |1 2001 |a “大功率电力电子器件及装备可靠性研究”系列

• 606 0_ |a 绝缘栅场效应晶体管 |A jue yuan shan chang xiao ying jing ti guan |x 封装工艺 |x 可靠性试验

• 690 __ |a TN386.2 |v 5

• 701 _0 |a 李辉 |A li hui |4 著

• 701 _0 |a 姚然 |A yao ran |4 著

• 701 _0 |a 向学位 |A xiang xue wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20230421