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• 010 __ |a 978-7-302-28543-4 |d CNY21.00

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• 200 1_ |a 纳米数字集成电路老化效应 |A na mi shu zi ji cheng dian lu lao hua xiao ying |e 分析、预测及优化 |f 靳松, 韩银和著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2012

• 215 __ |a 108页 |c 图 |d 23cm

• 320 __ |a 有书目 (第100-108页)

• 330 __ |a 本书的主要内容涉及一种公认的纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应 —— 负偏置温度不稳定性 (NBTI) 。介绍了NBTI效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响。

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x 数字集成电路 |x 老化 |x 研究

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

• 701 _0 |a 靳松 |A jin song |4 著

• 701 _0 |a 韩银和 |A han yin he |4 著

• 801 _0 |a CN |b RENTIAN |c 20120712

• 905 __ |a JHUD |d TN431.2/64

• 920 __ |a 242450 |z 1

• 998 __ |a RTBOOK