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• 200 10 |a 高频、微波半导体器件的计量测试 |f 曹余录等编著 |F CAO YU LU DENG BIAN ZHU |A GAO PIN 、 WEI BO BAN DAO TI QI JIAN DE JI LIANG CE SHI

• 210 __ |a 北京 |b 北京 |c 中国计量出版社 |d 1992.12

• 215 __ |a 162页 |d 19cm

• 225 2_ |a 无线电计量测试丛书 |v 15 |f 汤世贤主编

• 330 __ |a 本书内容包括:晶体管直流参数计量测试,高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。

• 410 _0 |1 20010 |a 无线电计量测试丛书

• 540 1_ |a 半导体 计量 |A BAN DAO TI JI LIANG

• 606 __ |a 半导体器件 |x 计量

• 606 __ |a 半导体器件 |x 测试

• 690 __ |a TN320.7

• 690 __ |a TN307 |v 三版

• 701 _0 |a 曹余录 |4 编著 |A CAO YU LU

• 801 _0 |a CN |b Library |c 19960708 |U UnKnown

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