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• 200 1_ |a 电子元器件失效分析与典型案例 |A dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi yu dian xing an li |f 孔学东，恩云飞主编

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a XII, 260页 |c 彩图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN601 |v 4

• 701 _0 |a 孔学东 |A kong xue dong |4 主编

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 主编

• 801 _0 |a CN |b SG02 |c 20061016

• 801 _2 |a CN |b JHUL |c 20070416

• 905 __ |a JHUL |d TN601/1