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• 200 1_ |a VLSI测试方法学和可测性设计 |A VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |f 雷绍充等著

• 210 __ |c 电子工业出版社 |d 2005.01

• 215 __ |a 300 |d 26cm

• 330 __ |a 本书系统地介绍了大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系之间的关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 _0 |a 雷绍充 |4 著 |A lei shao chong

• 801 _0 |a CN |b XHSD |c 20041009