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• 005 20140326140541.3

• 010 __ |a 978-7-5603-4287-0 |d CNY98.00

• 100 __ |a 20140212d2014 em y0chiy0121 ba

• 101 0_ |a eng

• 102 __ |a CN |b 230000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a Characterization of organic thin films |d = 有机薄膜的表征 |f Abraham Ulman |z chi

• 210 __ |a 哈尔滨 |c 哈尔滨工业大学出版社 |d 2014.1

• 215 __ |a xvii, 276页 |c 图 |d 23cm

• 225 2_ |a 材料表征原版系列丛书 |A cai liao biao zheng yuan ban xi lie cong shu

• 314 __ |a 责任者规范汉译姓: 乌尔曼

• 330 __ |a 最近几十年, 研究有机薄膜的分析技术经历了引人注目的发展。使用这些技术能够在分子级水平获得结构信息, 这样就可以将材料结构与材料性质联系起来。有机薄膜表征一书可以帮助材料科学家、物理学家、化学家及生物学家对结构与材料的关系有一个基础性理解, 这反过来也可以使先进材料的分子工程变为可能并且在分子制造领域开创新机会。本卷以关于Langmuir-Blodgett与自组装膜的介绍性章节作为开始, 接着讨论了利用不同分析技术研究其性质, 表面/界面与体特性都包含其中。

• 333 __ |a 薄膜技术人员

• 410 _0 |1 2001 |a 材料表征原版系列丛书

• 510 1_ |a 有机薄膜的表征 |z chi

• 606 0_ |a 薄膜技术 |A bao mo ji shu |x 英文

• 690 __ |a TB43 |v 5

• 701 _1 |a 乌尔曼 |A wu er man |g (Ulman, Abraham) |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 三新书业 |c 20140308

• 905 __ |s 3