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- 010 __ |a 978-7-121-04542-4 |d CNY89.00
- 099 __ |a CAL 012007087227
- 100 __ |a 20070710d2007 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 数字系统测试 |A shu zi xi tong ce shi |d = Testing of digital systems |f (美) Niraj Jha, Sandeep Gupta著 |g 王新安, 蒋安平, 宋春殚等译 |z eng
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2007
- 215 __ |a 704页 |c 图 |d 26cm
- 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie
- 305 __ |a 据Cambridge University Press 2003年英文版译出
- 306 __ |a 由Cambridge University Press授权电子工业出版社出版
- 330 __ |a 本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识,包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等,高级内容方面包括I测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试等。
- 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列
- 500 10 |a Testing of digital systems
- 606 0_ |a 数字系统 |A shu zi xi tong |x 测试
- 701 _1 |a 杰哈, |A jie ha |b N. |g (Jha, Niraj) |4 著
- 701 _1 |a 古普塔, |A gu pu ta |b S. |g (Gupta, Sandeep) |4 著
- 702 _0 |a 王新安 |A wang xin an |4 译
- 702 _0 |a 蒋安平 |A jiang an ping |4 译
- 702 _0 |a 宋春殚 |A song chun dan |4 译
- 801 _0 |a CN |b BUPT |c 20060710
- 905 __ |a JHUL |d TP274/130