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• 010 __ |a 978-7-308-17563-0 |d CNY98.00

• 099 __ |a CAL 012018035176

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 工程纳米测量基础 |A gong cheng na mi ce liang ji chu |d = Fundamental principles of engineering nanometrology |f (英) 理查德·利奇著 |g 袁道成 ... [等] 译 |z eng

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a 300页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 译者还有：朱学亮、刘乾、何华彬

• 305 __ |a 据原书第2版译出

• 314 __ |a 理查德·利奇(RichardLeach)，诺丁汉大学测量学教授。主要研究方向为表面形貌测量、精密增材制造3D结构测量方法、工业应用大型表面高分辨率控制方法、X射线CT成像技术等。

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。

• 333 __ |a 本书适用于测量技术、机械设计和机械加工等相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员

• 500 10 |a Fundamental principles of engineering nanometrology |A Fundamental Principles Of Engineering Nanometrology |m Chinese

• 606 0_ |a 纳米技术 |A na mi ji shu |x 应用 |x 精密工程测量

• 690 __ |a TB22 |v 5

• 701 _1 |a 利奇 |A li qi |g (Leach, Richard) |4 著

• 702 _0 |a 袁道成 |A yuan dao cheng |4 译

• 801 _0 |a CN |b WHUTL |c 20180408

• 905 __ |a JHUD |d TB22/37=2

• 920 __ |a 242450 |z 1