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• 010 __ |a 7-121-01490-4 |d CNY58.00

• 099 __ |a CAL 012005100237

• 100 __ |a 20050829d2005 em y0chiy0121 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 超大规模集成电路测试 |A chao da gui mo ji cheng dian lu ce shi |e 数字、存储器和混合信号系统 |d = Essentials of electronic testing for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits |f (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 |g 蒋安平, 冯建华, 王新安译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005

• 215 __ |a 16, 511页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie

• 306 __ |a 本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版。

• 314 __ |a 责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 编目员自译Agrawal汉译姓: 阿格拉瓦尔。

• 320 __ |a 有书目 (第474-511页)

• 330 __ |a 本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 510 1_ |a Essentials of electronic testing for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits |z eng

• 517 1_ |a 数字、存储器和混合信号系统 |A shu zi 、 cun chu qi he hun he xin hao xi tong

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN470.7 |v 4

• 701 _1 |a 布什内尔, |A bu shi nei er |b M. L. |g (Bushnell, Michael Lee), |f 1950- |4 著

• 701 _1 |a 阿格拉瓦尔, |A a ge la wa er |b V. D. |g (Agrawal, Vishwani D.), |f 1943- |4 著

• 702 _0 |a 蒋安平 |A jiang an ping |4 译

• 702 _0 |a 冯建华 |A feng jian hua |4 译

• 702 _0 |a 王新安 |A wang xin an |4 译

• 801 _0 |a CN |b SJT |c 20050920

• 801 _2 |a CN |b JHUL |c 20060411

• 905 __ |a JHUL |d TN470.7/1