机读格式显示(MARC)

• 000 01498nam 2200361 450

• 001 0000805286

• 005 20160924111900.0

• 010 __ |a 978-7-121-27230-1 |d CNY98.00

• 099 __ |a CAL 012015151115

• 100 __ |a 20151201d2015 ekmy0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件失效分析技术 |A dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 恩云飞, 来萍, 李少平编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a xix, 453页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

• 333 __ |a 本书适合电子企业的质量和可靠性工程师，或者对失效分析技术有兴趣的工程技术人员参考阅读。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 失效分析

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN601 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 来萍 |A lai ping |4 编著

• 701 _0 |a 李少平 |A li shao ping |4 编著

• 712 02 |a 工业和信息化部电子第五研究所 |A gong ye he xin xi hua bu dian zi di wu yan jiu suo |4 组编

• 801 _0 |a CN |b BJU |c 20151203

• 905 __ |a JHUD |d TN601/2

• 920 __ |a 242450 |z 1

• 998 __ |a NJU