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• 000 01632nam 2200337 450

• 001 0000813618

• 005 20161016155900.0

• 010 __ |a 978-7-121-27160-1 |d CNY88.00

• 099 __ |a CAL 012015137699

• 100 __ |a 20151110d2015 ekmy0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体集成电路的可靠性及评价方法 |A ban dao ti ji cheng dian lu de ke kao xing ji ping jia fang fa |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 章晓文, 恩云飞编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a 394页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。随着集成电路设计规模越来越大，设计可靠性越来越重要，在设计阶段借助可靠性仿真技术，评价设计出的集成电路可靠性能力，针对电路设计中的可靠性薄弱环节，通过设计加固，可以有效提高产品的可靠性水平，提高产品的竞争力。

• 333 __ |a 本书适用于集成电路设计和生产的技术人员参考，也可供高校微电子专业的本科生和研究生参考，还可作为培训教材使用。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 半导体集成电路 |A ban dao ti ji cheng dian lu |x 可靠性 |x 评价法

• 690 __ |a TN43 |v 5

• 701 _0 |a 章晓文 |A zhang xiao wen |4 编著

• 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著

• 711 02 |a 工业和信息化部电子第五研究所 |A gong ye he xin xi hua bu dian zi di wu yan jiu suo |4 组编

• 801 _0 |a CN |b NJU |c 20151111

• 905 __ |a JHUD |d TN43/61

• 920 __ |a 242450 |z 1

• 998 __ |a NJU