机读格式显示(MARC)

• 000 01298nam 2200349 450

• 001 0000967602

• 005 20231114100200.0

• 010 __ |a 978-7-5124-3714-2 |d CNY55.00

• 099 __ |a CAL 012022037554

• 100 __ |a 20220304d2022 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件可靠性技术基础 |A dian zi yuan qi jian ke kao xing ji shu ji chu |f 付桂翠 ... [等] 编著

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 268页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 飞行器质量与可靠性专业系列教材 |A fei xing qi zhi liang yu ke kao xing zhuan ye xi lie jiao cai

• 304 __ |a 题名页题其余编著者: 万博, 张素娟, 高成

• 320 __ |a 有书目 (第266-268页)

• 330 __ |a 本书在原版教材的基础上，增加了元器件可靠性概述，可靠性试验，以及基于失效物理的电子元器件可靠性评价等章节，介绍了电子元器件可靠性领域的新技术，新方法，具有较强的理论性和工程实用性。

• 410 _0 |1 2001 |a 飞行器质量与可靠性专业系列教材

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 付桂翠 |A fu gui cui |4 编著

• 701 _0 |a 万博 |A wan bo |4 编著

• 701 _0 |a 张素娟 |A zhang su juan |4 编著

• 801 _0 |a CN |b WHUTL |c 20220429

• 905 __ |a JHUD |d TN6/144=2

• 920 __ |a 242450 |z 1

• 998 __ |a WHUT