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中文图书1.集成电路测试技术 TN407/19
馆藏复本:2
可借复本:2 武乾文主编
电子工业出版社 2022
(0) 馆藏 -
中文图书2.集成电路测试技术基础 TN407/12
馆藏复本:3
可借复本:3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
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馆藏复本:2
可借复本:2 武乾文主编
电子工业出版社 2022
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馆藏复本:3
可借复本:3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
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