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中文图书1.数字集成电路功耗与测试综合优化 TN431.2/67
馆藏复本:2
可借复本:2 孙强著
清华大学出版社 2016
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中文图书2.数字集成电路设计实践 TN431.202/10
馆藏复本:2
可借复本:2 易幼文编著
电子工业出版社 2015
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中文图书3.数字集成电路与系统设计 TN431.2/65
馆藏复本:2
可借复本:2 李广军 ... 等编著
电子工业出版社 2015
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西文图书4.Digital integrated circuits : a design perspective(2nd Edition) = 数字集成电路 : 电路、系统与设计 ( TN431.2/R113
馆藏复本:3
可借复本:3 Rabaey, Jan M.
电子工业出版社, 2012.
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中文图书5.数字集成电路设计:从VLSI体系结构到CMOS制造:from VLSI architectures to CMOS fabrication TN431.202/8
馆藏复本:2
可借复本:2 (瑞士) Hubert Kaeslin著
人民邮电出版社 2011
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中文图书6.数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
馆藏复本:0
可借复本:0 李晓维 ... [等] 著
科学出版社 2011.04
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西文图书7.Digital integrated circuit design : from VLSI architectures to CMOS fabrication = 数字集成电路设计 : TN431.2/K11(C)
馆藏复本:2
可借复本:2 Kaeslin, Hubert.
人民邮电出版社, 2010.
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中文图书8.数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证 TN431.2/61
馆藏复本:3
可借复本:3 李晓维 ... [等] 著
科学出版社 2010
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中文图书9.数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度
馆藏复本:0
可借复本:0 李晓维等著
科学出版社 2010.06
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中文图书10.数字集成电路应用260例 TN431.2/58
馆藏复本:3
可借复本:3 兰吉昌等编
化学工业出版社 2009
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中文图书11.数字集成电路设计与技术 TN431.2/56
馆藏复本:3
可借复本:2 林丰成, 竺红卫, 李立编著
科学出版社 2008
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中文图书12.数字集成电路物理设计 TN431.202/7
馆藏复本:3
可借复本:2 陈春章, 艾霞, 王国雄编著
科学出版社 2008
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中文图书13.数字集成电路应用集萃 TN431.2/54
馆藏复本:3
可借复本:2 黄继昌, 张海贵, 徐巧鱼编著
中国电力出版社 2008
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中文图书14.数字集成电路设计 TN431.2/53
馆藏复本:3
可借复本:2 李哲英, 骆丽编著
机械工业出版社 2008
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中文图书15.现代数字集成电路设计 TN431.202/6
馆藏复本:3
可借复本:2 鞠家欣编
化学工业出版社 2006
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中文图书16.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
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中文图书17.数字集成电路基础与应用 TN431.2/49
馆藏复本:3
可借复本:3 孙余凯, 项绮明等编著
电子工业出版社 2006
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中文图书18.数字集成电路分析与设计:深亚微米工艺:in deep submicron technology TN431.2/48
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) David A. Hodges, Horace G. Jackson, Resve A. Saleh著
电子工业出版社 2005
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西文图书19.Analysis and design of digital integrated circuits : in deep submicron technology = 数字集成电路分析 TN431.22/A533=3
馆藏复本:3
可借复本:3 Hodges, David A.,
清华大学出版社 : 2004.
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西文图书20.Digital integrated circuits : a design perspective = 数字集成电路 : 设计透视 / 2nd ed. TN431.2/D574=2
馆藏复本:3
可借复本:3 Rabaey, Jan M.
清华大学出版社, 2004.
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