检索到 7 条 主题词=Automatic checkout equipment. 的结果
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西文图书1.Design-for-test for digital IC's and embedded core systems = 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设 TN431.2/C952
馆藏复本：5
可借复本：5 Crouch, Alfred L.
中国电力出版社, 2004.
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西文图书2.ATE & instrumentation conference west : get ready for the next decade of test : proceedings, Jan. 8- TP216-53/A864
馆藏复本：1
可借复本：1 spronsored by Electronics Test, Circuits Manufacturing, and EOS/ESD Technology magazines; endorsed b
Miller Freeman Expositions, c1990.
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西文图书3.Automatic testing 81 & test instrumentation : Metropole Convention Centre, Brighton, England, 7-10 D TP274-53/A939
馆藏复本：2
可借复本：2 supported by the IERE, the IQA, the Society of Test Engineers and the Journals TEST and NEW ELECTRON
Network, 1981.
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西文图书4.ATE : automatic test equipment / TP274/S889
馆藏复本：0
可借复本：0 Stover, Allan C.
McGraw-Hill Book Co., c1984.
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西文图书5.ATE : automatic test equipment / TP274/S889
馆藏复本：2
可借复本：2 Stover, Allan C.
McGraw-Hill Book Co., c1984.
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西文图书6.Autotestcon '85 / TP206-53/A939
馆藏复本：1
可借复本：1 Autotestcon '85
IEEE ; c1985.
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西文期刊7.Electronics test. TN7/W3
馆藏复本：1
可借复本：0
Miller Freeman Publications, etc.], 1986-
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