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中文图书1.Characterization in compound semiconductor processing
馆藏复本:0
可借复本:0 Gary E. McGuire, Yale E. Strausser
哈尔滨工业大学出版社 2014.1
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中文图书2.金属氧化物半导体纳米线的物性研究及器件研制 TN304.2/8
馆藏复本:2
可借复本:2 廖蕾著
武汉理工大学出版社 2017
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