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中文图书1.超大规模集成电路测试 TN470.7/2
馆藏复本:3
可借复本:3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
(0) 馆藏 -
中文图书2.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统 TN470.7/1
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
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馆藏复本:3
可借复本:3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
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馆藏复本:3
可借复本:3 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
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