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检索到 2 条 分类号=TN431.207 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度

    馆藏复本:0
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    李晓维等著
    科学出版社 2010.06
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  2. 中文图书2.数字集成电路参数的测量 TN431.207/1

    馆藏复本:3
    可借复本:0
    (苏联)埃杜卡斯 等编著
    人民邮电出版社 1988.3
    (0) 馆藏


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