检索到 10 条 分类号=TN407 主题=集成电路 馆藏地=自科借阅2(T)(113室) 的结果
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中文图书1.集成电路测试技术 TN407/19
馆藏复本：2
可借复本：2 武乾文主编
电子工业出版社 2022
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中文图书2.单板级JTAG测试技术 TN407/17
馆藏复本：2
可借复本：2 王承, 刘治国编著
国防工业出版社 2015
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中文图书3.集成电路芯片测试 TN407/16
馆藏复本：3
可借复本：3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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中文图书4.最新集成电路测试技术 TN407/14
馆藏复本：3
可借复本：3 高成, 张栋, 王香芬编著
国防工业出版社 2009
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中文图书5.集成电路测试技术基础 TN407/12
馆藏复本：3
可借复本：3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
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中文图书6.System Verilog验证方法学 TN407/11
馆藏复本：3
可借复本：3 Janick Bergeron ... [等] 著
北京航空航天大学出版社 2007
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中文图书7.现代集成电路测试技术 TN407/10
馆藏复本：3
可借复本：3 《现代集成电路测试技术》编写组
化学工业出版社 2006
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中文图书8.常用集成电路实测数据手册 TN407/1
馆藏复本：3
可借复本：3 蒋颂军, 何晓帆主编
化学工业出版社 2005
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中文图书9.数据域测试技术及议器 TN407/7
馆藏复本：2
可借复本：1 (中)杨吉祥著
科学出版社 1990.11
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中文图书10.音响·电视集成电路的检测与修理 TN4/62
馆藏复本：3
可借复本：2 高雨春等编著
中国广播电视出版社 1989.7
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