-
中文图书1.芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界 TN407/18
馆藏复本:3
可借复本:3 刘斌著
电子工业出版社 2018
(0) 馆藏
-
中文图书2.集成电路芯片测试 TN407/16
馆藏复本:3
可借复本:3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:3 刘斌著
电子工业出版社 2018
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
(0) 馆藏