检索到 5 条 分类号=TN407 主题=测试技术 馆藏地=自科借阅2(T)(113室) 的结果
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中文图书1.单板级JTAG测试技术 TN407/17
馆藏复本：2
可借复本：2 王承, 刘治国编著
国防工业出版社 2015
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中文图书2.微电子计量测试技术 TN407/15
馆藏复本：3
可借复本：2 沈森祖主著
西北工业大学出版社 2009
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中文图书3.最新集成电路测试技术 TN407/14
馆藏复本：3
可借复本：3 高成, 张栋, 王香芬编著
国防工业出版社 2009
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中文图书4.混合信号集成电路测试与测量 TN407/13
馆藏复本：3
可借复本：3 (美)Mark Burns，Gordon W. Roberts等著
电子工业出版社 2009
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中文图书5.可测性设计技术 TN407/9
馆藏复本：3
可借复本：3 陈光〓,潘中良编著
电子工业出版社 1997
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