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中文图书1.MEMS可靠性 TN4/178
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
电子工业出版社 2012
(0) 馆藏
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中文图书2.微电子技术的可靠性:互连、器件及系统:interconnects, devices and systems TN4/176
馆藏复本:3
可借复本:3 (瑞典) Johan Liu ... [等] 著
科学出版社 2013
(0) 馆藏