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中文图书1.集成电路测试技术基础 TN407/12
馆藏复本：3
可借复本：3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
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中文图书2.可测性设计技术 TN407/9
馆藏复本：3
可借复本：3 陈光〓,潘中良编著
电子工业出版社 1997
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中文图书3.数据域测试技术及议器 TN407/7
馆藏复本：2
可借复本：1 (中)杨吉祥著
科学出版社 1990.11
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