检索到 4 条 分类号=TN4 索书号=T 主题=测试 馆藏地=剔旧图书临时书库（909） 的结果
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中文图书1.微电子计量测试技术 TN407/15
馆藏复本：3
可借复本：2 沈森祖主著
西北工业大学出版社 2009
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中文图书2.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
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中文图书3.超大规模集成电路设计 II:逻辑与测试 TN47/66
馆藏复本：3
可借复本：0 树下行三 等著
科学出版社 1991.12
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中文图书4.数据域测试技术及仪器 TN407/8
馆藏复本：2
可借复本：0 杨吉祥编著
科学出版社 1990.11
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