检索到 10 条 分类号=TN4 索书号=T 主题=测试 馆藏地=自科典藏库（5楼） 的结果
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中文图书1.集成电路芯片测试 TN407/16
馆藏复本：3
可借复本：3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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中文图书2.微米纳米器件测试技术 TN4/177
馆藏复本：2
可借复本：2 张文栋等编著
国防工业出版社 2012
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中文图书3.微电子计量测试技术 TN407/15
馆藏复本：3
可借复本：2 沈森祖主著
西北工业大学出版社 2009
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中文图书4.最新集成电路测试技术 TN407/14
馆藏复本：3
可借复本：3 高成, 张栋, 王香芬编著
国防工业出版社 2009
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中文图书5.混合信号集成电路测试与测量 TN407/13
馆藏复本：3
可借复本：3 (美)Mark Burns，Gordon W. Roberts等著
电子工业出版社 2009
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中文图书6.集成电路测试技术基础 TN407/12
馆藏复本：3
可借复本：3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
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中文图书7.超大规模集成电路测试 TN470.7/2
馆藏复本：3
可借复本：3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
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中文图书8.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
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中文图书9.现代集成电路测试技术 TN407/10
馆藏复本：3
可借复本：3 《现代集成电路测试技术》编写组
化学工业出版社 2006
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中文图书10.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统 TN470.7/1
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
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