检索到 16 条 分类号=TN4 索书号=T 主题=测试 的结果
-
中文图书1.单板级JTAG测试技术 TN407/17
馆藏复本：2
可借复本：2 王承, 刘治国编著
国防工业出版社 2015
(0) 馆藏 -
中文图书2.集成电路芯片测试 TN407/16
馆藏复本：3
可借复本：3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
(0) 馆藏 -
中文图书3.微米纳米器件测试技术 TN4/177
馆藏复本：2
可借复本：2 张文栋等编著
国防工业出版社 2012
(0) 馆藏 -
中文图书4.微电子计量测试技术 TN407/15
馆藏复本：3
可借复本：2 沈森祖主著
西北工业大学出版社 2009
(0) 馆藏 -
中文图书5.最新集成电路测试技术 TN407/14
馆藏复本：3
可借复本：3 高成, 张栋, 王香芬编著
国防工业出版社 2009
(0) 馆藏 -
中文图书6.混合信号集成电路测试与测量 TN407/13
馆藏复本：3
可借复本：3 (美)Mark Burns，Gordon W. Roberts等著
电子工业出版社 2009
(0) 馆藏 -
中文图书7.集成电路测试技术基础 TN407/12
馆藏复本：3
可借复本：3 姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
化学工业出版社 2008
(0) 馆藏 -
中文图书8.超大规模集成电路测试 TN470.7/2
馆藏复本：3
可借复本：3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
(0) 馆藏 -
中文图书9.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
(0) 馆藏 -
中文图书10.现代集成电路测试技术 TN407/10
馆藏复本：3
可借复本：3 《现代集成电路测试技术》编写组
化学工业出版社 2006
(0) 馆藏 -
中文图书11.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统 TN470.7/1
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
(0) 馆藏 -
中文图书12.万用表速测集成电路数据大全 TN4/64
馆藏复本：6
可借复本：5 《电子文摘报》编辑部编
电子科技大学出版社 1992
(0) 馆藏 -
中文图书13.超大规模集成电路设计 II:逻辑与测试 TN47/66
馆藏复本：3
可借复本：0 树下行三 等著
科学出版社 1991.12
(0) 馆藏 -
中文图书14.可测性设计技术 TN407/9
馆藏复本：3
可借复本：3 陈光〓,潘中良编著
电子工业出版社 1997
(0) 馆藏 -
中文图书15.数据域测试技术及议器 TN407/7
馆藏复本：2
可借复本：1 (中)杨吉祥著
科学出版社 1990.11
(0) 馆藏 -
中文图书16.数据域测试技术及仪器 TN407/8
馆藏复本：2
可借复本：0 杨吉祥编著
科学出版社 1990.11
(0) 馆藏
