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中文图书1.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/160
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
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中文图书2.发展经济学前沿问题 F06/174
馆藏复本:6
可借复本:2 (英)V.N.巴拉舒伯拉曼雅姆(V.N.Balasubramanyam),(英)桑加亚·拉尔(Sanjaya Lall)主编
中国税务出版社 2000
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