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检索到 2 条 责任者=Crouch, Alfred L. 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) Alfred L. Crouch著
    机械工业出版社 2006
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Design-for-test for digital IC's and embedded core systems = 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设 TN431.2/C952

    馆藏复本：5
    可借复本：5     Crouch, Alfred L.
    中国电力出版社, 2004.
    (0) 馆藏

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