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中文图书1.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/50
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
(0) 馆藏
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中文图书2.软件测试过程改进 TP311.5/148
馆藏复本:4
可借复本:1 Edward Kit著
机械工业出版社 2003
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馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Alfred L. Crouch著
机械工业出版社 2006
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馆藏复本:4
可借复本:1 Edward Kit著
机械工业出版社 2003
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