-
中文图书1.超大规模集成电路测试 TN470.7/2
馆藏复本:3
可借复本:3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
(0) 馆藏 -
中文图书2.VLSI测试方法学和可测性设计
馆藏复本:0
可借复本:0 雷绍充等著
电子工业出版社 2005.01
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:3 雷绍充等编著
电子工业出版社 2008
(0) 馆藏
馆藏复本:0
可借复本:0 雷绍充等著
电子工业出版社 2005.01
(0) 馆藏