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  1. 中文图书1.Characterization in silicon processing

    馆藏复本：0
    可借复本：0     Yale E. Strausser
    哈尔滨工业大学出版社 2014.1
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  2. 中文图书2.Characterization in compound semiconductor processing

    馆藏复本：0
    可借复本：0     Gary E. McGuire, Yale E. Strausser
    哈尔滨工业大学出版社 2014.1
    (0) 馆藏

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