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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/25
馆藏复本:2
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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中文图书2.VBA专业项目实例开发 TP312BA/187
馆藏复本:3
可借复本:1 (美) Taruna Goel, Rachna Chaudhary著
中国水利水电出版社 2003
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