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中文图书1.电子封装技术与可靠性 TN05/40
馆藏复本：2
可借复本：1 (美) H. 阿德比利, 迈克尔·派克著
化学工业出版社 2012
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中文图书2.可靠性工程基础 TB114.3/50
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) Michael G. Pecht ... [等] 编著
电子工业出版社 2011
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中文图书3.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/160
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
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