MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：36
- 题名/责任者:
- 一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析/张晶威编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-302-58923-5/CNY39.00
- 载体形态项:
- 127页:图;24cm
- 其它题名:
- 高速电路研发与设计典型故障案例解析
- 个人责任者:
- 张晶威 编著
- 学科主题:
- 印刷电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN410.2
- 责任者附注:
- 张晶威, 从事电子硬件技术工作10余年, 涉及计算机, 通信, 仪器仪表等行业, 并参与多项国家级、省级系统平台建设。
- 提要文摘附注:
- 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。
全部MARC细节信息>>