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- 题名/责任者:
- 半导体测量和仪器/(美)鲁尼安编著 上海科技大学半导体材料教研室译
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,1980.7
- ISBN及定价:
- /RMB1.15
- 载体形态项:
- 322页;大32开
- 团体责任者:
- 鲁尼安 United States
- 团体责任者:
- 上海科技大学半导体材料教研室
- 中图法分类号:
- TN307
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 定位信息 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN307/4 | 00023453 | 剔旧图书临时书库（909） | 导航 | 非可借 | 剔旧图书临时书库（909） | |
| TN307/4 | A0669928 | 文理学院图书馆 | 导航 | 赠送出 | 文理学院图书馆 | |
| TN307/4 | 00023450 | 自科借阅2(T)(113室) | 导航 | 可借 | ||
| TN307/4 | 00117097 | 自科借阅2(T)(113室) | 导航 | 可借 | ||
| TN307/4 | A0160552 | 自科借阅2(T)(113室) | 导航 | 借出-应还日期：2038-03-28 | ||
| TN307/4 | A0669927 | 自科借阅2(T)(113室) | 导航 | 可借 | ||
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