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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:37 

题名/责任者:
全反射X射线荧光分析/(德) 赖因霍尔德·克洛肯凯帕著 王晓红, 王毅民, 王永奉译
出版发行项:
北京:原子能出版社,2002
ISBN及定价:
7-5022-2678-8/CNY28.00
载体形态项:
237页:图;21cm
并列正题名:
Total-reflection X-ray fluorescence analysis
个人责任者:
克洛肯凯帕, R. (Klockenkamper, Reinhold)
个人次要责任者:
王晓红
个人次要责任者:
王毅民
个人次要责任者:
王永奉
学科主题:
X射线荧光光谱法-荧光分析
中图法分类号:
O657.34
出版发行附注:
据John Wiley &Sons, I Inc. 1997年英文版译出
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书全面总结了全反射X射线荧光(TXRF)自1971年出现1980年第一台商品仪器问世以来,在理论、仪器和应用方面的进展,系统而详细地阐述了TXRF的原理,仪器装置和多方面的独特性能,特别着重其在各学科领域的应用并与其它原子光谱学方法作了多方面的对比。
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O657.34/2 A0482176  - 自科典藏库(5楼)     导航 可借
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