MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：49
- 题名/责任者:
- 混合信号集成电路测试与测量/(美)Mark Burns，Gordon W. Roberts等著 冯建华，肖钢等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-121-08293-1/CNY69.00
- 载体形态项:
- 15, 531页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 伯恩斯 (Burns, Mark, 1962-) 著
- 个人责任者:
- 罗伯茨 (Roberts, Gordon W., 1959-) 著
- 个人次要责任者:
- 冯建华 译
- 个人次要责任者:
- 肖钢 译
- 学科主题:
- 混合信号集成电路-测试技术-教材
- 中图法分类号:
- TN407-43
- 出版发行附注:
- 本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社。
- 责任者附注:
- Mark Burns，是美国德州仪器半导体公司(T1)的会士，混合信号IC测试和测量领域的著名专家，Burns由Ti资助花费三年时间撰写此书，作为他的工作职责的一部分。
- 责任者附注:
- Gordon W．Roberts，目前是McGill大学电子和计算机工程系的教授。多年来，他指导学生对模拟集成电路设计和混合信号电路测试问题开展广泛研究。他在IEEE会议发表大量论丈，合作出版了几本关于混合信号测试和模拟集成电路设计的著作(包括SPICE，2／e，与Adel Sedra合著，1996)和其他著作的许多章节。
- 责任者附注:
- 冯建华，博士，副教授，北京大学微电子学系。多以来一直从事VLSI测试和可测试性设计研究和教学工作。他最近的研究兴趣专注于数字、存储器、模拟和混合信号电路测试方法、自动测试矢量生成、低功耗测试和可测试性设计(扫描、BIST、边界扫描、IDDQ测试和SOC测试)等研究工作。
- 责任者附注:
- 肖钢，高级工程师，北京华大泰思特半导体检测枝术有限公司董事、副总经理。多年来一直从事集成电路测试研完和生产工作，领导集成电路测试公司开发了许多高端SOC测试芯片，积累了丰富的测试经验。1995年获中国科学院科技进步二等奖，1998年获电子工业部科学技术进步一等奖：1999年获国家科学技术进步二等奖。
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书围绕模拟与混合信号电路的测试，包括许多示例，覆盖数字电路测试，但并不是全面的，因为关于数字测试已经有了大量的资料。示例和图表由现代先进工业技术浓缩而成，全书表达生动。在考虑这种技术的应用中，介绍了大规模混合信号电路和各种电路的测试。清楚地讨论了混合信号IC测试给产品的附加利益，以及清楚地定义了测试工程师的作用。
全部MARC细节信息>>