MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：44
- 题名/责任者:
- MEMS可靠性/(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著 恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-121-18805-3/CNY55.00
- 载体形态项:
- 220页:图;26cm
- 统一题名:
- MEMS reliability
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 哈策尔 (Hartzell, Allyson L.) 著
- 个人责任者:
- 席尔瓦 (Silva, Mark G.) 著
- 个人责任者:
- 谢伊 (Shea, Herbert R.) 著
- 个人次要责任者:
- 恩云飞 译
- 个人次要责任者:
- 贾玉斌 译
- 个人次要责任者:
- 黄钦文 译
- 学科主题:
- 微电子技术-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN4
- 版本附注:
- 据Springer Science + Business Media, 2011年英文版译出
- 责任者附注:
- 责任者规范汉译姓分别为: 哈策尔, 席尔瓦, 谢伊
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书是关于MEMS可靠性的一本专著, 主要内容包括: 用于寿命预测的可靠性统计理论, MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式, MEMS在使用中的失效模式, MEMS的失效根源及分析, MEMS的试验和鉴定标准, 以及提升MEMS可靠性的工具和技术。
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