MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：30
- 题名/责任者:
- X射线荧光光谱的基本参数法/卓尚军, 陶光仪, 韩小元著
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,2010.11
- ISBN及定价:
- 978-7-5478-0507-7 精装/CNY68.00
- 载体形态项:
- 379页:图;22cm
- 个人责任者:
- 卓尚军 著
- 个人责任者:
- 陶光仪 著
- 个人责任者:
- 韩小元 著
- 学科主题:
- X射线荧光光谱法-荧光分析
- 中图法分类号:
- O657.34
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书是介绍X射线荧光光谱分析中的基本参数法的专业著作。详细论述了基本参数法中一些基本参数的优化方法和这些优化对基本参数法分析结果的影响, 并给出了应用实例。
- 使用对象附注:
- 本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读, 也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物
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