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MARC状态:审校  文献类型:西文期刊 浏览次数:212 

题名/责任者:
IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.
出版发行项:
Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society, c1984-
ISSN:
0740-7475
载体形态项:
v. : ill. ; 28 cm.
起止卷期:
Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-
变异题名:
IEEE design & test
变异题名:
IEEE design and test
变异题名:
Design and test of computers
变异题名:
Design & test of computers
变异题名:
IEEE design and test of computers
其他载体形态:
IEEE design & test of computers
其他载体形态:
IEEE design & test of computers
附加团体名称:
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
附加团体名称:
IEEE Computer Society.
论题主题:
Electronic digital computers-Testing-Periodicals.
论题主题:
Computer engineering-Periodicals.
中图法分类号:
TP3
出版周期:
Quarterly, Mar. 1991-
先前出版周期:
Bimonthly, <Oct. 1987>-Dec. 1990
先前出版周期:
Quarterly, Feb. 1984-
一般附注:
Title from cover.
书目附注:
Includes bibliographies reference.
引文/参考附注:
Safety science abstracts journal 0160-1342
引文/参考附注:
Pollution abstracts with indexes 0032-3624
引文/参考附注:
ISMEC bulletin 0306-0039
引文/参考附注:
International aerospace abstracts 0020-5842 1984-
引文/参考附注:
Electronics and communications abstracts journal (Riverdale) 0361-3313
引文/参考附注:
Index to IEEE publications 0099-1368
编号特点附注:
Vol. 1, no. 1 also called premiere issue.
载体形态附注:
Available also on microfilm and microfiche from the Institute of Electrical and Electronics Engineers.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态
TP3/W55 K0022381 1986 v.3, no.1 外文报刊阅览室     导航 非可借
TP3/W55 K0027587 1986 v. 3, no. 1-6 外文报刊阅览室     导航 非可借
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