MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：39
- 题名/责任者:
- 数字系统测试/(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta著 王新安, 蒋安平, 宋春殚等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-121-04542-4/CNY89.00
- 载体形态项:
- 704页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 杰哈, N. (Jha, Niraj) 著
- 个人责任者:
- 古普塔, S. (Gupta, Sandeep) 著
- 个人次要责任者:
- 王新安 译
- 个人次要责任者:
- 蒋安平 译
- 个人次要责任者:
- 宋春殚 译
- 学科主题:
- 数字系统-测试
- 中图法分类号:
- TP274
- 版本附注:
- 据Cambridge University Press 2003年英文版译出
- 出版发行附注:
- 由Cambridge University Press授权电子工业出版社出版
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识，包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等，高级内容方面包括I测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试等。
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