MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：30
- 题名/责任者:
- 数字系统测试和可测试性设计/(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著 贺海文, 唐威昀译
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-111-50154-1/CNY85.00
- 载体形态项:
- XV, 368页:图;24cm
- 丛编项:
- 电子与嵌入式系统设计译丛
- 个人责任者:
- 纳瓦比 (Navabi, Zainalabedin) 著
- 个人次要责任者:
- 贺海文 译
- 个人次要责任者:
- 唐威昀 译
- 学科主题:
- 数字系统-系统测试
- 中图法分类号:
- TP271
- 一般附注:
- 华章科技
- 出版发行附注:
- 由Springer science+business media授权出版
- 书目附注:
- 有书目 (第362-368页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要论述了数字系统的电路测试以及设计可测试性。本书使用Verilog进行数字电路的设计、测试分析并实现数字系统可测试性。
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