MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- VLSI测试方法学和可测性设计/雷绍充等著
- 出版发行项:
- :电子工业出版社,2005.01
- ISBN及定价:
- 7-121-00379-1 压膜装/CNY28.00
- 载体形态项:
- 300;26cm
- 个人责任者:
- 雷绍充 著
- 中图法分类号:
- TN47
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系之间的关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
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